智能化β、γ表面污染檢測儀 JB4040
簡介 
 適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測，同時也適用與X、γ輻射劑量率的監測。儀器采用進口蓋革探測器，具有較高的探測效率；是環境實驗室、核醫學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲存和商檢等領域進行β輻射表面污染檢測或X，γ輻射防護監測的理想儀器，該儀器采用單片機控制，LCD液晶顯示，讀數清晰、操作方便。 
智能化β、γ表面污染檢測儀 JB4040特點 
GM探測器陣列，探測效率高 
便攜式設計，重量輕 
單片機控制，軟件功能強       
LCD液晶顯示，會話式操作界面 
計數率顯示CPM、CPS、μSv/h                
電池失效報警                         

智能化β、γ表面污染檢測儀技術指標 
計數范圍：1～106 
探測器面積：25cm2 
靈 敏 度：≥500 CPM/μSv/h 
劑量率范圍：0.01～200.00μSv/h 
儀器本底：每分鐘計數≤130 CPM 
相對誤差：測量范圍內相對基本誤差≤20% 
供電電源：2節1.5v普通5號電池，整機電流≤50mA 
溫度范圍：-10℃～45℃ 
濕度范圍：相對濕度≤90%（40℃） 
尺寸重量：0.64kg;23×13×4.5（cm） 

產品名稱：沖擊校正器 產品型號：QCJ—X

 依據GB/T 1732-93設計制造。校正器是漆膜沖擊器的附屬儀器。
適用于沖擊器定期校正之器具。
設備儀器：
(1) 金屬環：外徑Ø30mm內徑Ø10mm厚3±0.05mm
(2) 金屬片：30mm×50mm厚1±0.05mm
(3) 塞尺一套。